发明名称 施主晶片以及重复利用晶片的方法和剥离有用层的方法
摘要 在剥离包含选自半导体材料的材料的有用层之后重复利用施主晶片(10)的一种方法,所述施主晶片(10)依次包含衬底(1)和多层结构(I),所述多层结构(I)在剥离之前包含待剥离的有用层,所述过程包括在发生剥离的一侧除去物质,其特征在于,在除去物质之后,所述多层结构的至少一部分(I′)仍保留,所述缓冲结构的至少一部分(I′)包含至少一层可剥离的其它有用层,而不需要重新形成有用层的辅助步骤。本文献还涉及:根据本发明从至少一片可重复利用的施主晶片(10)剥离薄层的方法,根据本发明可重复利用的施主晶片(10)。
申请公布号 CN100483666C 申请公布日期 2009.04.29
申请号 CN200480006143.8 申请日期 2004.01.07
申请人 S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司 发明人 B·吉斯兰;C·奥内特;B·奥特诺;T·赤津;Y·M·勒瓦扬
分类号 H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L21/762(2006.01)I
代理机构 北京戈程知识产权代理有限公司 代理人 程 伟
主权项 1. 一种在剥离包含选自半导体材料的材料的有用层之后对施主晶片(10)的重复利用方法,所述施主晶片(10)依次包含衬底(1)和多层结构(I),多层结构(I)在剥离之前包含待剥离的有用层,所述方法包括在发生剥离的一侧除去物质,其特征在于,在除去物质之后,多层结构的至少一部分(I′)仍保留,所述多层结构的至少一部分(I′)包含至少一层可剥离的其它有用层,而不需要重新形成有用层的辅助步骤。
地址 法国贝尔尼