发明名称 | 光电二极管阵列、光电二极管检测系统和光学编码器 | ||
摘要 | 本发明涉及光电二极管阵列、光电二极管检测系统和光学编码器。用于光学编码器的光电二极管检测器阵列包括光电二极管序列,该光电二极管序列在相邻的光电二极管之间具有在第一节距和第二节距之间交替的节距,其中第二节距不同于第一节距。 | ||
申请公布号 | CN101403626A | 申请公布日期 | 2009.04.08 |
申请号 | CN200810168162.0 | 申请日期 | 2008.09.28 |
申请人 | 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 | 发明人 | R·E·富兰克林 |
分类号 | G01D5/26(2006.01)I;G01D5/34(2006.01)I;G01D5/347(2006.01)I | 主分类号 | G01D5/26(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 胡莉莉;刘春元 |
主权项 | 1.一种用于光学编码器的光电二极管检测器阵列,该光电二极管检测器阵列包括:光电二极管序列,该光电二极管序列在相邻的光电二极管之间具有在第一节距和第二节距之间交替的节距,第二节距不同于第一节距。 | ||
地址 | 德国特劳恩罗伊特 |