发明名称 VERFAHREN UND SENSOR ZUR MESSUNG DER HAUTIMPEDANZ
摘要
申请公布号 AT424143(T) 申请公布日期 2009.03.15
申请号 AT20070109807T 申请日期 2007.06.07
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, HONG SIG;JANG, WOO YOUNG;PARK, JAE CHAN;PARK, JEONG JE
分类号 A61B5/053;A61B5/103 主分类号 A61B5/053
代理机构 代理人
主权项
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