发明名称 具有用于改进载子局限的复数背阻障层之半导体结构
摘要 一种半导体结构具有:一通道层,具有位于其中的一导电通道;一对极化产生层;一间隔层,设置于该对极化产生层之间。该对极化产生层沿一共同预定方向产生极化场。该对极化产生层个别可以是InGaN;InAlGaN;或是四元素构成之In#sB!x#eB!Al#sB!y#eB!Ga#sB!1-x-y#eB!N,且x大于或等于y/2。极化产生层沿一共同预定方向产生极化场,有效增加通道层所经历的总极化场,以增加导电通道的载子局限。
申请公布号 TW200910589 申请公布日期 2009.03.01
申请号 TW097111409 申请日期 2008.03.28
申请人 雷森公司 发明人 威廉 贺克;艾达度 强毕斯
分类号 H01L29/778(2006.01);H01L29/66(2006.01) 主分类号 H01L29/778(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国