发明名称 可防止电磁干扰之测试治具及其测试方法
摘要 一种可防止电磁干扰之测试治具,其系设置于一自动测试机台,该测试治具系主要包含一壳体、一电磁屏蔽材以及一测试装置,该壳体系具有一底板、一盖板及复数个侧板,该盖板系具有一测试孔,该些侧板系具有一第一表面及一第二表面,该些侧板系设置于该底板之一上表面上以形成一容置空间,该盖板系覆盖于该容置空间上,该电磁屏蔽材系至少形成于该些侧板之该第二表面,该测试装置系设置于该容置空间内。由于该壳体系为一密闭装置且在该壳体内系形成有该电磁屏蔽材,故放置于该测试装置内之电子元件系可受到该壳体之保护,以阻隔测试时之外来电磁干扰,且由于该测试治具系设置于该自动测试机台,取代知人工测试,具有降低生产成本及提高产能之功效。
申请公布号 TW200908868 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW096129113 申请日期 2007.08.07
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 詹家华;萧国忠;廖军达;黄俊源
分类号 H05K9/00(2006.01) 主分类号 H05K9/00(2006.01)
代理机构 代理人 张启威
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号