发明名称 Verfahren und Layout eines Halbleiterbauelements mit reduzierten Störeffekten
摘要 Es wird ein Halbleiterbauelement offenbart. Das Bauelement enthält einen Halbleiterkörper, eine über dem Halbleiterkörper angeordnete Schicht aus Isoliermaterial und ein über der Schicht aus Isoliermaterial angeordnetes Gebiet aus Gateelektrodenmaterial. Enthalten sind auch ein Sourcegebiet bei dem Gategebiet und ein Draingebiet bei dem Gategebiet. Eine Gateverbindung ist über dem Halbleiterkörper angeordnet, wobei die Gateverbindung ein Gebiet aus Elektrodenmaterial enthält, das elektrisch ein Kontaktgebiet an die Gateelektrode koppelt. Ein Isoliergebiet ist auf dem Halbleiterkörper unter der Gateverbindung angeordnet.
申请公布号 DE102008002653(A1) 申请公布日期 2009.02.05
申请号 DE200810002653 申请日期 2008.06.25
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 BIRNER, ALBERT;CHEN, QIANG
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L21/762 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
地址