发明名称 INSPECTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH01301188(A) 申请公布日期 1989.12.05
申请号 JP19880132111 申请日期 1988.05.30
申请人 SONY CORP 发明人 OHIGATA KOJI
分类号 G01R31/26;G01R31/302;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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