| 发明名称 | 一维综合孔径微波辐射计 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种一维综合孔径微波辐射计，包括依次连接的天线阵列、接收机阵列、相关器单元、控制和数据处理单元，所述控制和数据处理单元与计算机或数据接口连接；其特征在于，所述天线阵列是一维天线阵列，该天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。本实用新型具有如下技术效果：实现了一维综合孔径的全极化测量；实现了综合孔径辐射计等入射角测量；实现了综合孔径微波辐射计的两点定标；本实用新型的一维孔径综合的技术复杂度低于二维孔径综合；本实用新型的单通道接收机极化切换模式满足了轻量化和低功耗的要求；本实用新型的双通道接收机模式实现了高灵敏度辐射测量。 | ||
| 申请公布号 | CN201138358Y | 申请公布日期 | 2008.10.22 |
| 申请号 | CN200720169818.1 | 申请日期 | 2007.07.20 |
| 申请人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明人 | 吴季;阎敬业;马纽埃尔·马丁·尼拉 |
| 分类号 | G01R29/08(2006.01);G01R29/10(2006.01);G01S13/90(2006.01) | 主分类号 | G01R29/08(2006.01) |
| 代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王勇 |
| 主权项 | 1、一种一维综合孔径微波辐射计，包括依次连接的天线阵列、接收机阵列、相关器单元以及控制和数据处理单元，所述控制和数据处理单元能与计算机或数据接口连接，其特征在于，所述天线阵列是一维天线阵列，所述天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。 | ||
| 地址 | 100084北京市海淀区中关村南二条1号 | ||