| 摘要 |
本专利发明为对液晶显示器中之零组件－涂布式增亮膜(Brightness Enhancement Film,BEF)进行其表面瑕疵之检测与分类，主要分为影像前置处理(Image Pre-processing)、瑕疵几何特征撷取和瑕疵分类等三大部分。在影像前置处理部分首先利用机器视觉(Machine Vision)与影像强化(Image enhancement)技术侦测增亮膜之表面瑕疵如明暗不均(Uneveness or Mura)、气泡(Bubble)、线条(Streak)与异物(Contamination)等四种主要瑕疵，亦即利用直方图均等化(Histogram equalization)与区域性统计参数(Local statistics)对原始瑕疵影像进行影像增强以凸显瑕疵，随后利用Otsu二值化方法将瑕疵与良好部分分离以获得瑕疵之位置与形状。在瑕疵几何特征撷取部份则使用最适椭圆法(Best fitting ellipse)以求得瑕疵部分之几何特征数值如瑕疵群数、瑕疵面积、长轴长度、短轴长度和长短轴之比值。接着使用最邻近邻居法(K-Nearest Neighbor,KNN)分类器分别对上述所取得之瑕疵几何特征数值进行瑕疵分类，并探讨KNN分类器之相关参数设定，以求得其最佳设定参数设定以及最佳辨识能力。本专利发明并针对明暗不均、气泡、线条与异物等四种主要瑕疵种类各撷取30张实际样本影像；共计120张实际样本影像进行实际测试，测试结果显示本专利发明可达100％之瑕疵侦测率，而KNN分类器在最佳参数设定下，均可达到100％的辨识率。 |
