| 发明名称 | 用于校准发射系统的方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于校准发射系统(1)的方法和系统，该发射系统(1)用于将数据从介质访问控制设备(2)经数字接口(IF1)发射至物理层(PHY)并且发射至天线(3)以进入传输线(4)，其中物理层(PHY)包括基带控制器(5)以及包含多个功能模块(FB1到FB13)的数据处理流水线(6)，所述方法包括如下步骤：设置校准控制寄存器(R)，接着将发射系统(1)设置为校准模式，其中该发射系统(1)产生预定数量的单一测试音调(T)并且顺次发射这些测试音调(T)，以及在发射这些测试音调(T)之后，检测返回的测试音调(T)，并且对它们的电平尤其是它们的功率电平以及传输线(4)的频谱特性进行测量。 | ||
| 申请公布号 | CN101326722A | 申请公布日期 | 2008.12.17 |
| 申请号 | CN200680046558.7 | 申请日期 | 2006.12.06 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 沃尔弗拉姆·德雷舍尔 |
| 分类号 | H03L7/10(2006.01);H04B1/69(2006.01) | 主分类号 | H03L7/10(2006.01) |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈源;张天舒 |
| 主权项 | 1.用于校准发射系统(1)的方法，该发射系统(1)用于将数据从介质访问控制设备(2)经数字接口(IF1)发射至物理层(PHY)并且发射至天线(3)以进入传输线(4)，其中物理层(PHY)包括基带控制器(5)以及包含多个功能模块(FB1到FB13)的数据处理流水线(6)，所述方法包括如下步骤：设置校准控制寄存器(R)，接着将发射系统(1)设置为校准模式，其中该发射系统(1)产生预定数量的单一测试音调(T)并且顺次发射这些测试音调(T)，以及在发射这些测试音调(T)之后，检测返回的测试音调(T)，并且对它们的电平尤其是它们的功率电平以及传输线(4)的频谱特性进行测量。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||