发明名称 光性能检测仪
摘要 本实用新型属于光学仪器领域,特别涉及一种用于光纤链路中进行光信号的检测的光性能检测仪。该光性能检测仪,包括光开关、微处理器、可调滤波器、光分路器件、FP标准具和参考波长激光器,其中,所述可调滤波器,用于根据不同的电压来控制透过的光波长,将测试光中的一个一个波长提取滤过出来;所述光分路器件,用于将所述可调滤波器的提取滤过出来的光信号,分成两部分,一部分直接进行测量光功率,另一部分进入所述FP标准具中,进行波长测定。由于采用了上述的技术解决方案,使检测仪体积小,同时成本低,可靠性更好,方便在移动和恶劣环境下使用。
申请公布号 CN201156736Y 申请公布日期 2008.11.26
申请号 CN200720076278.2 申请日期 2007.11.16
申请人 上海未来宽带技术及应用工程研究中心有限公司 发明人 刘浩峰;林清全;高义河
分类号 H04B10/08(2006.01);H04B10/12(2006.01) 主分类号 H04B10/08(2006.01)
代理机构 上海兆丰知识产权代理事务所 代理人 章蔚强
主权项 1、一种光性能检测仪,其特征在于,包括光开关、与光开关电连接的微处理器、分别与光开关光信号连接及与微处理器电连接的可调滤波器、与可调滤波器光信号连接的光分路器件、与光分路器件光信号连接的FP标准具和给光开关输入光信号的参考波长激光器,其中,所述光开关,被所述微处理器控制用于切换参考波长的光信号和被检测的光信号;所述微处理器,用于控制输出不同的电压,驱动所述可调滤波器工作,控制调节所述可调滤波器滤出的波长,记录测试出用以检测光性能的相关数据,并控制所述光开关切换光信号;所述可调滤波器,用于根据所述微处理器控制输出的不同的电压来控制透过的光波长,将测试光中的一个一个波长提取滤过出来;所述光分路器件,用于将所述可调滤波器的提取滤过出来的光信号,分成两部分,一部分直接进行测量光功率,另一部分进入所述FP标准具中,进行波长测定;所述FP标准具,用于标定被所述可调滤波器透过的光的波长;所述参考波长激光器,用于作为整个检测仪检测系统的参考波长,输入固定波长的光供检测系统测试出相应的光性能数据作为对应电压滤出波性能数据的对照数据。
地址 200336上海市长宁区虹古路150号