发明名称 半导体装置
摘要 本发明之课题是获得可以防止内部引线表面被擦伤之半导体装置。本发明之解决手段是在晶片焊垫13之周围设置多个之内部引线14。在晶片焊垫13和多个之内部引线14之间之区域,设置接地之GND引线16。半导体晶片17和多个之内部引线14分别利用多个之连接线21连接。半导体晶片17和GND引线16利用GND线22连接。GND线22被配置在多个之连接线21之间。邻接之内部引线14前端之间隔为0.2mm以下。
申请公布号 TW200845342 申请公布日期 2008.11.16
申请号 TW097107439 申请日期 2008.03.04
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 三角和幸;内和士;高田泰纪;安田直世;新川秀之;福留胜幸
分类号 H01L23/488(2006.01) 主分类号 H01L23/488(2006.01)
代理机构 代理人 赖经臣
主权项
地址 日本