发明名称 |
利用超临界溶剂在半导体基板上形成并沈积金属膜的组成物及方法 |
摘要 |
本发明揭露在半导体基板上沉积元素态金属M(0)膜的组成物及方法。所揭露的方法之一包含:加热半导体基板以获得热半导体基板;使该热半导体基板接触到含有金属前驱物、过量的中性不稳定配位基(neutral labile ligands)、以及超临界溶剂的组成物;在该热半导体基板或其附近,使该金属前驱物接触到还原剂及/或热能;藉着使用该还原剂及/或该热能,将该金属前驱物还原成元素态金属M(0);并且沉积该元素态金属M(0)膜,同时尽量减少金属氧化物的形成。 |
申请公布号 |
TW200839879 |
申请公布日期 |
2008.10.01 |
申请号 |
TW097102887 |
申请日期 |
2008.01.25 |
申请人 |
兰姆研究公司 |
发明人 |
马克 伊恩 华格纳 |
分类号 |
H01L21/3205(2006.01);H01L21/283(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/3205(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
许峻荣 |
主权项 |
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地址 |
美国 |