发明名称 利用超临界溶剂在半导体基板上形成并沈积金属膜的组成物及方法
摘要 本发明揭露在半导体基板上沉积元素态金属M(0)膜的组成物及方法。所揭露的方法之一包含:加热半导体基板以获得热半导体基板;使该热半导体基板接触到含有金属前驱物、过量的中性不稳定配位基(neutral labile ligands)、以及超临界溶剂的组成物;在该热半导体基板或其附近,使该金属前驱物接触到还原剂及/或热能;藉着使用该还原剂及/或该热能,将该金属前驱物还原成元素态金属M(0);并且沉积该元素态金属M(0)膜,同时尽量减少金属氧化物的形成。
申请公布号 TW200839879 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW097102887 申请日期 2008.01.25
申请人 兰姆研究公司 发明人 马克 伊恩 华格纳
分类号 H01L21/3205(2006.01);H01L21/283(2006.01) 主分类号 H01L21/3205(2006.01)
代理机构 代理人 许峻荣
主权项
地址 美国