发明名称 图案形成方法及半导体装置的制造方法
摘要 本发明之图案形成方法系包含:准备具有形成初期图案的矽之被处理体,该初期图案具有第1线宽;在电浆处理装置的处理室内电浆氧化处理该矽表面,于初期图案的表面形成氧化矽膜;及除去氧化矽膜,并且,藉由重复进行氧化矽膜的形成及氧化矽膜的除去,在被处理体上形成具有比上述第1线宽更微细的第2线宽之目的的图案。
申请公布号 TW200839846 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW096149752 申请日期 2007.12.24
申请人 国立大学法人名古屋大学;东京威力科创股份有限公司 发明人 堀胜;壁义郎;盐泽俊彦;北川淳一
分类号 H01L21/027(2006.01);H01L21/3105(2006.01);H01L21/3065(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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