发明名称 相变化记忆体装置以及制造该装置之方法
摘要 本发明提供一种相变化记忆体装置及一种制造该装置之方法。在一基板上提供一具有一第一表面之第一电极。一具有一第二表面之第二电极位于该基板上,该第二表面位于一不同于该第一表面之水平面处。该第二电极可与该第一电极间隔开。可形成一对应于该第一电极之第三电极。可形成一对应于该第二电极之第四电极。可在该第一表面与该第三电极之间插入一第一相变化图案。可在该第二表面与该第四电极之间插入一第二相变化图案。该第一相变化图案及该第二相变化图案之上表面可位于同一平面上。
申请公布号 TW200840103 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW096143114 申请日期 2007.11.14
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 安亨根;堀井秀树;辛宗灿;安东浩;晙洙;朴正熙
分类号 H01L45/00(2006.01);H01L27/24(2006.01);G11C16/02(2006.01) 主分类号 H01L45/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文;林嘉兴
主权项
地址 韩国
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