发明名称 |
显示器、列驱动集成电路、和多电平检测器,以及多电平检测方法 |
摘要 |
本发明涉及显示器、列驱动集成电路、和多电平检测器,以及多电平检测方法,并且更具体地,涉及通过从接收多电平信号中移除共模来减少误差的可能性的多电平检测器、多电平检测方法、显示器和列驱动集成电路。本发明提供了一种多电平检测器,该多电平检测器包括用于移除差分多电平信号的共模的共模移除电路,以及用于使用移除了共模的差分多电平信号检测多电平的第一比较器和第二比较器。本发明还提供了包括该多电平检测器的显示器和列驱动集成电路。 |
申请公布号 |
CN101273395A |
申请公布日期 |
2008.09.24 |
申请号 |
CN200580051653.1 |
申请日期 |
2005.11.03 |
申请人 |
安纳帕斯股份有限公司 |
发明人 |
李龙宰 |
分类号 |
G09G3/20(2006.01) |
主分类号 |
G09G3/20(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李辉 |
主权项 |
1.一种多电平检测器,该多电平检测器包括:第一共模移除电路,用于接收包括第一信号和第二信号的第一差分多电平信号,并输出包括第三信号和第四信号的第二差分多电平信号,其中通过移除所述第一差分多电平信号的共模生成所述第二差分多电平信号;第一比较器,用于接收所述第二差分多电平信号以及包括第一参考信号和具有比所述第一参考信号的电压值更低电压值的第二参考信号的差分参考信号,并根据所述第三信号的电压和所述第一参考信号的电压二者的比较结果,以及根据所述第四信号的电压和所述第二参考信号的电压二者的比较结果,输出两个逻辑值中的一个;第二比较器,用于接收所述第二差分多电平信号和所述差分参考信号,并根据所述第四信号的所述电压和所述第一参考信号的所述电压二者的比较结果,以及根据所述第三信号的所述电压和所述第二参考信号的所述电压二者的比较结果,输出所述两个逻辑值中的一个;以及运算单元,用于输出多电平检测结果,其中所述多电平检测结果是所述第一比较器和所述第二比较器二者的输出的逻辑运算的结果。 |
地址 |
韩国首尔 |