| 发明名称 | 自动化测量发光二极管的测试设备及方法 | ||
| 摘要 | 本发明为一种自动化测量一发光二极管的测试设备及方法。本发明的自动化测试设备包括一测试治具、一待测物设置处、一测量装置与一电源供应装置。测试治具包括感光组件。待测物设置处用来设置要测的发光二极管，并且待测物设置处与该电源供应装置电性连接，以提供该发光二极管一固定电压。测量装置用以自动测测量试治具中感光组件的特性变化，并藉以判断该发光二极管的功能是否正常。 | ||
| 申请公布号 | CN101266276A | 申请公布日期 | 2008.09.17 |
| 申请号 | CN200710085775.3 | 申请日期 | 2007.03.14 |
| 申请人 | 纬创资通股份有限公司;纬创资通(昆山)有限公司 | 发明人 | 李昌;李文凯 |
| 分类号 | G01R31/01(2006.01);G01R31/02(2006.01) | 主分类号 | G01R31/01(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王志森;黄小临 |
| 主权项 | 1. 一种自动化测试设备，用于测量一发光二极管，该自动化测试设备包括：一待测物设置处，用以设置该发光二极管；一测试治具，包括一光敏电阻；以及一电源供应装置，与该待测物设置处电性地连接，以提供该发光二极管一固定电压；该测试治具利用该光敏电阻测量该发光二极管的亮度。 | ||
| 地址 | 中国台湾台北县 | ||