| 摘要 |
本发明为一种TFT液晶面板(4、400)物性测量方法，其具有：阻抗设定步骤(步骤S1、步骤S11、步骤S12)，其系将上述TFT液晶面板(4、400)之TFT(4A、400A)之源极(42A、420A)－汲极(43A、430A)间之阻抗值设定为特定值以下之值；电压施加步骤(步骤S2、步骤S13)，其系对于上述TFT液晶面板(4、400)之液晶层(4B、400B)施加周期性地变化之电压；及物性测量步骤(步骤S3、步骤S4、步骤S14、步骤S15)，其系测量流于藉由上述电压施加步骤(步骤S2、步骤S13)而被施加有上述周期性地变化之电压之上述液晶层(4B、400B)之过渡电流，以测量上述液晶层(4B、400B)之物性。 |
