发明名称 电熔丝的制造方法和半导体结构
摘要 本发明涉及一种电熔丝的制造方法和半导体结构。提供一种结构的制造方法,该方法包括提供一种结构。该结构包括(a)衬底层,(b)在衬底层中的第一熔丝电极,以及(c)在衬底层和第一熔丝电极上的熔丝电介质层。该方法还包括(i)在熔丝电介质层中形成开口,以便第一熔丝电极通过该开口暴露于周围环境,(ii)在该开口的侧壁和底壁上形成熔丝区域,以便将熔丝区域电耦合到第一熔丝电极,以及(iii)在所述形成熔丝区域之后,用电介质材料填充该开口。
申请公布号 CN101256978A 申请公布日期 2008.09.03
申请号 CN200810082602.0 申请日期 2008.02.27
申请人 国际商业机器公司 发明人 许履尘;J·A·曼德尔曼;W·R·通蒂;杨智超
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L23/525(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 于静;李峥
主权项 1.一种电熔丝制造方法,包括以下步骤:在衬底中形成第一电极;在所述第一电极之上形成电介质层;在所述电介质层中形成开口,以便所述第一电极通过所述开口暴露于周围环境;在所述开口的侧壁和底壁上形成熔丝元件,以便所述第一电极和所述熔丝元件电耦合在一起;以及用电介质材料填充所述开口。
地址 美国纽约