发明名称 一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪
摘要 一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪,其特征在于:由基座、工件测试液槽、三维工作台、照明系统、成像系统、CCD、计算机系统七部分组成;在工件测试液槽中间开有一条玻璃窗口,并将其放置在基座上,在基座中心位置放置三维移动台,三维移动台上放置照明系统、成像系统和CCD;照明系统包含有光源系统和45°半透半反分光镜;测量时,被测玻璃器件放置在工件测试液槽中,将工件测试液槽内注入适量折射液,由光源系统发出的光束经45°半透半反分光镜和玻璃折射液后照射到被测玻璃器件上,被测玻璃器件中的气泡或杂质在光束的照射下将产生散射,散射光经成像系统后会聚到CCD的靶面上被CCD采集,计算机系统对采集到图像进行分析处理可得到气泡、杂质的大小和位置。
申请公布号 CN101241086A 申请公布日期 2008.08.13
申请号 CN200810101295.6 申请日期 2008.03.03
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 杨文志;景洪伟;吴时彬;曹学东
分类号 G01N21/958(2006.01) 主分类号 G01N21/958(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 贾玉忠;卢纪
主权项 1、一种基于对玻璃材料的气泡、杂质测量的检测仪,其特征在于:它由基座(1)、工件测试液槽(2)、三维工作台(3)、照明系统(4)、成像系统(12)、CCD(13)、计算机系统(14)七部分组成;在工件测试液槽(2)中间开有一条玻璃窗口(9),并将工件测试液槽(2)放置在基座(1)上,在基座(1)中心位置放置三维移动台(3),三维移动台(3)上放置照明系统(4)、成像系统(12)和CCD(13),其中照明系统(4)包含有光源系统(5)和45°半透半反分光镜(6);测量时,被测玻璃器件(8)放置在工件测试液槽(2)中,然后将工件测试液槽(2)内注入适量折射液(7),由光源系统(5)发出的光再经45°半透半反分光镜(6)和玻璃折射液后照射(7)到被测玻璃器件(8)上,被测玻璃器件(8)中的气泡或杂质在光束的照射下将产生散射,散射光经成像系统(12)后会聚到CCD(13)的靶面上,此时CCD(13)采集图像,计算机系统(14)对CCD(13)采集到的图像进行分析处理可得到气泡、杂质的大小和位置。
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