发明名称 功率MOSFET的晶片级晶片规模封装
摘要 本发明公开了一种功率MOSFET的晶片级晶片规模封装方法,该方法包括:化学镀晶片背面以及晶片正面上的多个接触区,和在将晶片切割成多个功率MOSFET晶片之前在经镀覆的多个接触区上形成焊球的步骤。在可替代的实施例中,该方法包括:在晶片背面设置永久保护层,化学镀晶片正面的多个接触区,和在将晶片切割成多个功率MOSFET晶片之前在经镀覆的多个接触区上形成焊球的步骤。
申请公布号 TW200832580 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096150355 申请日期 2007.12.26
申请人 万国半导体股份有限公司 ALPHA & 发明人 冯涛;孙明
分类号 H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L21/60(2006.01)
代理机构 代理人 蔡清福
主权项
地址 美国