发明名称 拟似粒子之粒径光学分析方法及其设备
摘要 一种拟似粒子之粒径光学分析方法及其设备,包含一取像步骤、一影像前、后处理步骤,以及一计算步骤,该取像步骤是利用一线扫描摄影器摄取拟似粒子之影像,该影像前处理步骤是对摄取的影像进行二值化处理,使轮廓明显化,该影像后处理步骤是对经前处理的影像进行去除杂点、去除边界,以及空孔填补处理,该计算步骤是对经后处理的影像进行计算与分析,包括在完整轮廓之拟似粒子粒径,及合并前后两影像画面之未完整拟似粒子粒径。利用该线扫描摄影器取像,取像率可达100%,不会有重复与漏失的问题,可达到颗粒全检,有效提高准确性。
申请公布号 TW200831878 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096102093 申请日期 2007.01.19
申请人 中国钢铁股份有限公司 发明人 牟金禄;唐永新;廖志伟;罗盛平
分类号 G01N15/02(2006.01);G06T7/00(2006.01) 主分类号 G01N15/02(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 高雄市小港区中钢路1号