发明名称 | 拟似粒子之粒径光学分析方法及其设备 | ||
摘要 | 一种拟似粒子之粒径光学分析方法及其设备,包含一取像步骤、一影像前、后处理步骤,以及一计算步骤,该取像步骤是利用一线扫描摄影器摄取拟似粒子之影像,该影像前处理步骤是对摄取的影像进行二值化处理,使轮廓明显化,该影像后处理步骤是对经前处理的影像进行去除杂点、去除边界,以及空孔填补处理,该计算步骤是对经后处理的影像进行计算与分析,包括在完整轮廓之拟似粒子粒径,及合并前后两影像画面之未完整拟似粒子粒径。利用该线扫描摄影器取像,取像率可达100%,不会有重复与漏失的问题,可达到颗粒全检,有效提高准确性。 | ||
申请公布号 | TW200831878 | 申请公布日期 | 2008.08.01 |
申请号 | TW096102093 | 申请日期 | 2007.01.19 |
申请人 | 中国钢铁股份有限公司 | 发明人 | 牟金禄;唐永新;廖志伟;罗盛平 |
分类号 | G01N15/02(2006.01);G06T7/00(2006.01) | 主分类号 | G01N15/02(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 恽轶群;陈文郎 | |
主权项 | |||
地址 | 高雄市小港区中钢路1号 |