发明名称 薄膜电晶体及半导体元件的制作方法
摘要 一种薄膜电晶体的制作方法。首先,于基板上形成图案化多晶矽层与将其覆盖的闸极介电层。于闸极介电层上依序形成第一、第二闸极材料层及牺牲层。于牺牲层上形成图案化光阻层。以图案化光阻层为罩幕,对牺牲层进行等向性蚀刻而形成图案化牺牲层,且对第一、第二闸极材料层进行非等向性蚀刻,及对图案化多晶矽层进行掺杂以形成源极/汲极区。在移除图案化光阻层之后,以图案化牺牲层为罩幕,对剩余的第一、第二闸极材料层进行非等向性蚀刻,并再对图案化多晶矽层进行掺杂以形成浅掺杂源极/汲极区。之后,移除图案化牺牲层。此方法可减少光罩的使用数量。
申请公布号 TW200832715 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096103363 申请日期 2007.01.30
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 邱大维;陈昱丞
分类号 H01L29/786(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/786(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号