发明名称 | 薄膜电晶体及半导体元件的制作方法 | ||
摘要 | 一种薄膜电晶体的制作方法。首先,于基板上形成图案化多晶矽层与将其覆盖的闸极介电层。于闸极介电层上依序形成第一、第二闸极材料层及牺牲层。于牺牲层上形成图案化光阻层。以图案化光阻层为罩幕,对牺牲层进行等向性蚀刻而形成图案化牺牲层,且对第一、第二闸极材料层进行非等向性蚀刻,及对图案化多晶矽层进行掺杂以形成源极/汲极区。在移除图案化光阻层之后,以图案化牺牲层为罩幕,对剩余的第一、第二闸极材料层进行非等向性蚀刻,并再对图案化多晶矽层进行掺杂以形成浅掺杂源极/汲极区。之后,移除图案化牺牲层。此方法可减少光罩的使用数量。 | ||
申请公布号 | TW200832715 | 申请公布日期 | 2008.08.01 |
申请号 | TW096103363 | 申请日期 | 2007.01.30 |
申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 邱大维;陈昱丞 |
分类号 | H01L29/786(2006.01);H01L21/336(2006.01) | 主分类号 | H01L29/786(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |