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Un aparato de formación de imágenes, que incluye: un dispositivo (205) de formación de imágenes que tiene una pluralidad de grupos de píxeles, que tienen cada uno de ellos al menos un píxel; medios (211) de detección de señales para leer cargas eléctricas almacenadas de los píxeles y entregar como salida señales que tienen niveles de señal correspondientes a las cantidades de las cargas eléctricas almacenadas que han sido leídas; medios (212) de detección de defectos para determinar si los píxeles son píxeles defectuosos correspondientes a los niveles de las señales; y medios (212) de control para controlar la lectura de las cargas eléctricas almacenadas de los píxeles de dicho dispositivo de formación de imágenes en un primer modo de lectura y en un segundo modo de lectura; donde, en el primer método de lectura, las cargas eléctricas almacenadas son leídas desde los píxeles, de manera que el tiempo de almacenamiento de la carga eléctrica de cada uno de los píxeles es el mismo en cada uno de los grupos de píxeles, donde, en el segundo método de lectura, las cargas eléctricas almacenadas son leídas desde los píxeles, de manera que el tiempo de almacenamiento de la carga eléctrica de cada uno de los píxeles es diferente del primer método de lectura, en al menos una parte de los grupos de píxeles, y donde, para los métodos de lectura, dichos medios (212) de detección de defectos fijan niveles de determinación de defectos de acuerdo con los tiempos de almacenamiento de la carga eléctrica, y determina los píxeles que tienen niveles de señal mayores que los niveles de determinación de defectos como píxeles defectuosos.
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