| 摘要 |
Bei dieser Vorrichtung und dem zugehörigen Verfahren ist eine Strahlungsquelle in Bezug zu einer Detektorplatte derart ausrichtbar, dass die hochenergetischen Strahlen der Strahlungsquelle, bezogen auf den Zentralstrahl der Strahlungsquelle, symmetrisch zu diesem verteilt auf der Detektorplatte auftreffen.
|
