发明名称 | 内存测试装置及内存测试方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种内存测试装置及方法,其中,该内存测试装置包括一处理模块,该处理模块耦合一测试模块、一锁存模块及一解锁模块,且该测试模块、该锁存模块及该解锁模块均耦合至该系统;而该内存测试方法通过上述装置以达成,且该方法包括以下步骤:处理模块获得系统当前可用物理内存的大小;测试模块根据当前可用物理内存的大小申请虚拟内存;处理模块判断申请虚拟内存是否成功;若成功,则由锁存模块将虚拟内存强制锁定在当前可用物理内存中;测试模块对被锁定的物理内存进行测试操作;处理模块判断测试是否结束;若结束,则由解锁模块解除物理内存的锁定。本发明采用物理内存锁定技术,可以动态锁定所有的可用物理内存,安全且快速。 | ||
申请公布号 | CN101211295A | 申请公布日期 | 2008.07.02 |
申请号 | CN200610148020.9 | 申请日期 | 2006.12.26 |
申请人 | 环达电脑(上海)有限公司 | 发明人 | 谢鹏 |
分类号 | G06F11/22(2006.01) | 主分类号 | G06F11/22(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1.一种内存测试装置,适用于检测一系统的可用物理内存;其特征在于该内存测试装置包括:一处理模块,其用以获得系统当前可用物理内存的大小;一测试模块,耦合该系统及该处理模块,且该测试模块用以设置待测物理内存的大小、申请虚拟内存及进行测试操作;一锁存模块,耦合该处理模块及该系统,且该锁存模块用以将虚拟内存强制锁定在当前可用物理内存中;一解锁模块,耦合该处理模块及该系统,且该解锁模块用以解除物理内存的锁定。 | ||
地址 | 200436上海市闸北区江场三路213号 |