发明名称 基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面同轴度测量方法
摘要 基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面同轴度测量方法。本发明涉及测量领域,它解决了在光束发散角小、指向控制精度要求高的光学测试系统中,激光发射轴与机械基准面的夹角需要严格测出,目前并无方法对其进行测量的问题。步骤如下:首先探测被测激光发射系统出射光斑;其次安装小孔光阑;之后安装辅助光源进行反射光斑的探测;最终得出方向角度偏差和俯仰角度偏差。基于辅助光源及分光系统,利用焦平面成像法将测量精度提高到0.1μrad以上,同时最小测量范围不受成像光斑大小的限制。
申请公布号 CN101210806A 申请公布日期 2008.07.02
申请号 CN200710144880.X 申请日期 2007.12.20
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 谭立英;马晶;韩琦琦;刘剑峰;于思源;杨玉强;俞建杰
分类号 G01B11/26(2006.01) 主分类号 G01B11/26(2006.01)
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 代理人 徐爱萍
主权项 1.基于辅助光源的激光发射轴与机械基准面同轴度测量方法,其特征在于它的步骤如下:步骤一:探测被测激光发射系统(9)出射光斑:被测激光发射系统(9)发出激光光束,激光光束经过长焦平行光管(1)聚焦,聚焦后被测激光光束照射在长焦平行光管(1)出光口与焦点之间的1∶1分光器(3)上,50%被测激光光束经分光器(3)反射聚焦于CCD探测器(4)上,并记录成像光斑位置为A(x1,y1),另50%被测激光光束在成像屏(5)上成点像,通过显微CCD探测器(7)对光斑位置进行记录;步骤二:安装小孔光阑:关闭激光发射系统,将成像屏(5)移除,替换具有小孔的遮光板(6),通过显微CCD探测器(7)所记录的光斑位置准确调整小孔中心位置,使小孔位置与光斑位置重合;步骤三:安装辅助光源(8)进行反射光斑的探测:移除显微CCD探测器(7),替换为辅助光源(8),辅助光源(8)的光束通过小孔和长焦平行光管(1)照射到被测机械基准面(10)上,将高精度平面镜(2)的反射面粘接于被测机械基准面(10),长焦平行光管(1)出射光经高精度平面镜(2)反射后,将在CCD探测器(4)的光敏面上成像,记录成像光斑位置为B(x2,y2);步骤四:得出方向角度偏差和俯仰角度偏差:被测激光发射系统(9)的法线与被测机械基准面(10)法线沿方位轴方向角度偏差α、俯仰角度偏差β分别为:α=(x2-x1)/F,β=(y2-y1)/F其中F为长焦平行光管(1)的焦距。
地址 150001黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号