发明名称 |
集成电路中降低存储器失效之方法 |
摘要 |
存储器可靠性由使用冗余修复可由BCC侦测的错误而被改良。在一具体实施例中,冗余修复无法由ECC修正的错误。冗余可利用电子熔丝的使用,在包含该存储器的IC被封装后激活修复。冗余亦可在该IC的封装前被执行。 |
申请公布号 |
CN100392766C |
申请公布日期 |
2008.06.04 |
申请号 |
CN200410049034.6 |
申请日期 |
2004.06.11 |
申请人 |
因芬尼昂技术股份公司 |
发明人 |
M·雅各布;J·沃尔法尔特;T·罗尔 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01);G11C11/22(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01) |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
余刚;李丙林 |
主权项 |
1.一种降低存储器失效的方法,其包括:执行对于存储器地址的读取操作;取得来自对应于该存储器地址的存储器的信息之数据字;使用错误修正码决定该数据字是否包含任何错误;若该数据包含错误,则确定是否能由错误修正码修正该错误;若不能由该错误修正码修正该错误,则确定是否能提供冗余存储器;以及若能提供该冗余存储器,则使用该冗余存储器修复至少对应于在数据字中的错误之存储器单元。 |
地址 |
联邦德国慕尼黑 |