发明名称 |
溅射镀膜离子束辐照增强方法 |
摘要 |
本发明公开一种镀膜技术领域的溅射镀膜离子束辐照增强方法,包括如下步骤:第一步,将内置射频线圈放于镀膜室中基板前面,使叠加的等离子体产生在基板附近;第二步,对射频线圈的外表面进行完全绝缘化处理;第三步,将射频能量输入射频线圈,射频线圈发热,对射频线圈进行冷却;第四步,调整输入的射频功率,实现对辐照基板的离子束密度的控制,从而调整镀膜中离子束辐照作用。本发明方法中,辐照基板的离子束没有高能尾巴,离子束的密度和能量可以独立调节,输入的射频功率可高达数千瓦,镀膜室中的等离子体没有污染。 |
申请公布号 |
CN101182628A |
申请公布日期 |
2008.05.21 |
申请号 |
CN200710172154.9 |
申请日期 |
2007.12.13 |
申请人 |
上海交通大学 |
发明人 |
李铸国;黄坚;吴毅雄 |
分类号 |
C23C14/34(2006.01);C23C14/54(2006.01) |
主分类号 |
C23C14/34(2006.01) |
代理机构 |
上海交达专利事务所 |
代理人 |
王锡麟;王桂忠 |
主权项 |
1.一种溅射镀膜离子束辐照增强方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,将内置射频线圈放于镀膜室中基板前面,使叠加的等离子体产生在基板附近;第二步,对射频线圈的外表面进行完全绝缘化处理;第三步,将射频能量输入射频线圈,射频线圈发热,对射频线圈进行冷却;第四步,调整输入的射频功率,实现对辐照基板的离子束密度的控制,从而调整镀膜中离子束辐照作用。 |
地址 |
200240上海市闵行区东川路800号 |