发明名称 溅射镀膜离子束辐照增强方法
摘要 本发明公开一种镀膜技术领域的溅射镀膜离子束辐照增强方法,包括如下步骤:第一步,将内置射频线圈放于镀膜室中基板前面,使叠加的等离子体产生在基板附近;第二步,对射频线圈的外表面进行完全绝缘化处理;第三步,将射频能量输入射频线圈,射频线圈发热,对射频线圈进行冷却;第四步,调整输入的射频功率,实现对辐照基板的离子束密度的控制,从而调整镀膜中离子束辐照作用。本发明方法中,辐照基板的离子束没有高能尾巴,离子束的密度和能量可以独立调节,输入的射频功率可高达数千瓦,镀膜室中的等离子体没有污染。
申请公布号 CN101182628A 申请公布日期 2008.05.21
申请号 CN200710172154.9 申请日期 2007.12.13
申请人 上海交通大学 发明人 李铸国;黄坚;吴毅雄
分类号 C23C14/34(2006.01);C23C14/54(2006.01) 主分类号 C23C14/34(2006.01)
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 1.一种溅射镀膜离子束辐照增强方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,将内置射频线圈放于镀膜室中基板前面,使叠加的等离子体产生在基板附近;第二步,对射频线圈的外表面进行完全绝缘化处理;第三步,将射频能量输入射频线圈,射频线圈发热,对射频线圈进行冷却;第四步,调整输入的射频功率,实现对辐照基板的离子束密度的控制,从而调整镀膜中离子束辐照作用。
地址 200240上海市闵行区东川路800号