发明名称 | 缺陷侦测系统和方法及光碟校验方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种缺陷侦测系统和方法,用于可复写光碟。在该系统中,一解调器读取一光碟上多个扇区之内容与内校验码(PI)。一扇区侦测器解码该等内校验码PI以获得该等扇区的缺陷资讯。一记忆体储存由该等扇区之内容所组成之一容错资料区块(ECC block),并储存该等扇区的缺陷资讯,其中该容错资料区块包含一外校验码(PO)。一容错资料区块侦测器解码该外校验码,并根据该等扇区的缺陷资讯和该外校验码来判断该容错资料区块是否有缺陷。一处理器控制该内校验码和外校验码的解码程序。 | ||
申请公布号 | TW200820230 | 申请公布日期 | 2008.05.01 |
申请号 | TW096138480 | 申请日期 | 2007.10.15 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 朱清和;江俊颖 |
分类号 | G11B20/12(2006.01);G11B20/18(2006.01) | 主分类号 | G11B20/12(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区笃行一路1号 |