发明名称 电子构件检查探针
摘要 【课题】提供一种能确实地与作为被检查物之精细化后的电子构件之印刷布线或电路元件接触的简易检查探针。【解决手段】检查探针,系为具备有多数之检查点12的电子构件11,和具备有多数输入导线26的检查机器之间,介入存在有使各别为相互绝缘之多数的金属芯线18,并藉由将该电子构件11推压付着,使各检查点12与各输入端子之间接触于各金属芯线18的两端而使电气导通的检查探针,其特征为:在朝向前述金属芯线18之检查点12之侧的端面,系构成为端缘(edge),该端缘,系以起从该检查点12之中心偏移向外的位置来接触。
申请公布号 TW200819755 申请公布日期 2008.05.01
申请号 TW096101929 申请日期 2007.01.18
申请人 日置电机股份有限公司 发明人 满木秀彦
分类号 G01R1/073(2006.01) 主分类号 G01R1/073(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本