多层记录介质和用于记录和/或再现该介质的光学拾取器

摘要

本发明提供了一种相对于具有多个记录层的多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器，该光学拾取器包括：光源，发射具有预定波长的光束；衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器。在该光学拾取器中，主光电检测器和副光电检测器彼此间隔开预定的距离，从而由从散焦记录层反射的光束形成的光束点不被副光电检测器检测到。

主权项

1.一种相对于具有多个记录层的多层记录介质记录和/或再现数据的光学拾取器，该光学拾取器包括：光源，发射具有预定波长的光束；衍射单元，将从所述光源发射的光束分为主光束和副光束；和光电检测器，具有检测从多层记录介质反射的主光束的主光电检测器和检测副光束的副光电检测器，其中，主光电检测器和副光电检测器彼此间隔开预定的距离Ds，从而由从多层记录介质的散焦记录层反射的光束形成的光束点不被副光电检测器检测到，其中，主光电检测器与副光电检测器之间的所述预定的距离Ds满足下面的不等式：$D_s\ge \frac{A}{2}+\mathrm{QR},$ 其中，“R”是由从散焦记录层反射的光束形成的光束点的半径，“A”是副光电检测器的宽度，“Q”是表示副推挽信号的DC偏移的允许范围的系数，当DC偏移的允许范围不大于5％时，系数Q在0.85-0.90之间。