| 发明名称 | 荧光粉激发光谱测量装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种荧光粉激发光谱测量装置。包括激发灯和单色仪构成的激发光源，曝光和测量暗箱，暗箱内设置粉盘和温控装置，激发光源发出的单色光垂直辐射到有加热装置粉盘上，暗箱上有荧光粉发射光辐射接收装置，以测量发射光的光谱或光度量。本实用新型将激发光扫描系统、自动控温系统和发射光谱测量系统有机结合起来，可以精确测量的处于工作的高温状态下的荧光粉受到单色激发光或扫描单色激发光下的发光性能。 | ||
| 申请公布号 | CN201043952Y | 申请公布日期 | 2008.04.02 |
| 申请号 | CN200720108152.9 | 申请日期 | 2007.04.13 |
| 申请人 | 杭州远方光电信息有限公司 | 发明人 | 潘建根 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01) | 主分类号 | G01N21/64(2006.01) |
| 代理机构 | 杭州杭诚专利事务所有限公司 | 代理人 | 林宝堂 |
| 主权项 | 1.一种荧光粉激发光谱测量装置，包括由激发灯(1)和单色仪(2)构成的激发源，曝光和测量暗箱(3)，其特征在于暗箱(3)内设置荧光粉试样粉盘(4)和控制荧光粉试样温度的温控装置，激发源发出的单色光垂直辐射到粉盘(4)上，暗箱(3)上有荧光粉发射光接收装置(5)。 | ||
| 地址 | 310053浙江省杭州市滨江区滨康路669号 | ||