| 发明名称 | 测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置 | ||
| 摘要 | 一种测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置，包括一光谱仪，在光谱仪的输出光方向依次是滤光片和45°分光镜，在45°分光镜的反射光束方向同光轴地依次为起偏器、λ/4菲涅尔双菱体、待测1/4波片、检偏器、第一聚焦透镜和第一光电探测器，第一光电探测器的输出经第一运算放大电路和第一A/D转换器接计算机，在45°分光镜的透射光束方向依次为衰减片、第二聚焦透镜和第二光电探测器，第二光电探测器的输出经第二运算放大电路、第二A/D转换器接计算机，计算机的输出端分别通过第一步进马达驱动系统和第二步进马达驱动系统控制待测1/4波片和检偏器的运动。本实用新型能在宽光谱范围内测量1/4波片的相位延迟和快轴方向，测量精度高，而且操作方便。 | ||
| 申请公布号 | CN201032473Y | 申请公布日期 | 2008.03.05 |
| 申请号 | CN200720067870.6 | 申请日期 | 2007.03.15 |
| 申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 薄锋;朱健强;康俊;范微 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01);G01J4/00(2006.01) | 主分类号 | G01M11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
| 主权项 | 1.一种测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置，包括一光谱仪(1)单色光源，其特征是在该光谱仪(1)的单色光输出方向依次是滤光片(2)和45°分光镜(14)，在该45°分光镜(14)的反射光束的前进方向同光轴地依次为起偏器(3)、λ/4菲涅尔双菱体(4)、待测1/4波片(5)、检偏器(6)、第一聚焦透镜(7)和第一光电探测器(8)，该第一光电探测器(8)的输出经第一运算放大电路(11)和第一A/D转换器(12)接计算机(13)，在所述的45°分光镜(14)的透射光束的前进方向依次为衰减片(15)、第二聚焦透镜(16)和第二光电探测器(17)，该第二光电探测器(17)的输出经第二运算放大电路(18)、第二A/D转换器(19)接计算机(13)，该计算机(13) 的输出端分别通过第一步进马达驱动系统(9)和第二步进马达驱动系统(10)控制所述的待测1/4波片(5)和检偏器(6)的运动。 | ||
| 地址 | 201800上海市800－211邮政信箱 | ||