发明名称 校正符号时序之方法及装置
摘要 本发明系提供一种校正一接收端之符号时序之方法及装置。该接收端系接收一传送端以一符号周期所传送之一讯号。该方法为:以一取样周期来取样该讯号而依序得到N个取样资料,该取样周期为该符号周期之一半;根据一时序校正演算法,自该N个取样资料中,自第K个资料开始,撷取M个资料来作为一第一组资料,并计算该第一组资料而产生一第一时序参数;根据该时序校正演算法,自该N个取样资料中,自第K+1个资料开始,撷取 M个资料来作为一第二组资料,并计算该第二组资料而产生一第二时序参数;以及依据该第一、第二时序参数来校正该符号时序。
申请公布号 TWI294236 申请公布日期 2008.03.01
申请号 TW094120013 申请日期 2005.06.16
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 发明人 颜光裕;蔡建良;林后唯;李宜霖
分类号 H04L7/04(2006.01) 主分类号 H04L7/04(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪 台北县永和市福和路389号5楼
主权项 1.一种校正一接收端(receiver)之符号时序(symbol timing)之方法,该接收端系接收一传送端(trans mitter) 以一符号周期(symbol period)所传送之一讯号,该方法 包含有: 以一取样周期来取样该讯号而依序得到N个取样资 料,该取样周期系为该符号周期之一半,其中该N为 正整数; 根据一时序校正演算法(timing recovery algorithm, TR algorithm),自该N个取样资料中,自第K个资料开始,撷 取M个资料来作为一第一组资料,其中该K及该M为正 整数; 利用该时序校正演算法来计算该第一组资料而产 生一第一时序参数(timing mertic); 根据该时序校正演算法,自该N个取样资料中,自第K +1个资料开始,撷取M个资料来作为一第二组资料; 利用该时序校正演算法来计算该第二组资料而产 生一第二时序参数;以及 依据该第一、第二时序参数来校正该符号时序。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含有: 将该第一时序参数之正负号变号。 3.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含有: 将该第二时序参数减去该第一时序参数以得到一 第三时序参数; 其中校正该符号时序之步骤系使用该第三时序参 数。 4.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含有: 将该第一时序参数减去该第二时序参数以得到一 第三时序参数; 其中校正该符号时序之步骤系使用该第三时序参 数。 5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该时序校 正演算法系为一穆勒(Mueller & Muller)演算法。 6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中M系等于2, 且该第一组资料系包含第K个资料以及第K+2个资料 ,该第二组资料系包含第K+1个资料以及第K+3个资料 。 7.一种校正一接收端(receiVer)之符号时序(symbol timing)之装置,该接收端系接收一传送端(transmitter) 以一符号周期(symbol period)所传送之一讯号,该装置 包含有: 一取样电路,以一取样周期来取样该讯号而依序得 到N个取样资料,该取样周期系为该符号周期之一 半,其中该N为正整数; 一时序错误侦测器(timing error detector),耦接于该取 样电路,用来: 根据一时序校正演算法(timing recovery algorithm, TR algorithm),自该N个取样资料中,自第K个资料开始,撷 取M个资料作为一第一组资料,其中该K及该M为正整 数; 利用该时序校正演算法来计算该第一组资料而产 生一第一时序参数(timing metric); 根据该时序校正演算法,自该N个取样资料中,自第K +1个资料开始,撷取M个资料作为一第二组资料;以 及 利用该时序校正演算法来计算该第二组资料而产 生一第二时序参数;以及 一符号时序校正电路,耦接于该时序错误侦测器, 用来依据该第一、第二时序参数来校正该符号时 序。 8.如申请专利范围第7项所述之装置,更包含有: 一时序参数处理电路,耦接于该时序错误侦测器与 该符号时序校正电路,用来将该第一时序参数之正 负号变号。 9.如申请专利范围第7项所述之装置,更包含有: 一时序参数处理电路,耦接于该时序错误侦测器与 该符号时序校正电路,用来将该第二时序参数减去 该第一时序参数以得到一第三时序参数,以及该符 号时序校正电路系使用该第三时序参数来校正该 符号时序。 10.如申请专利范围第7项所述之装置,更包含有: 一时序参数处理电路,耦接于该时序错误侦测器与 该符号时序校正电路,用来将该第一时序参数减去 该第二时序参数以得到一第三时序参数,以及该符 号时序校正电路系使用该第三时序参数来校正该 符号时序。 11.如申请专利范围第7项所述之装置,其中该时序 校正演算法系为一穆勒(Mueller & Muller)演算法。 12.如申请专利范围第11项所述之装置,其中M系等于 2,且该第一组资料系包含第K个资料以及第K+2个资 料,该第二组资料系为第K+1个资料以及第K+3个资料 。 13.一种校正符号时序之方法,用来使一接收端( receiver)依据一符号时序(symbol timing)来接收一传送 端(transmitter)所传送之一讯号,该讯号对应一符号 周期(symbol period),且该方法包含有: 依据一取样周期来取样该讯号而依序得到N个取样 资料,该取样周期小于该符号周期,其中该N为正整 数; 自该N个取样资料中撷取M个资料,并依据该M个资料 来产生复数个时序参数(timing metric),其中该M为正 整数;以及 依据该些时序参数来校正该符号时序; 其中一该符号周期平均对应一个以上之该时序参 数。 14.如申请专利范围第13项所述之方法,其中产生该 些时序参数之步骤进一步包含: 每二分之一符号周期产生一该时序参数; 其中该些时序参数包含连续产生之一第一时序参 数与一第二时序参数。 15.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该第一 时序参数与该第二时序参数相互异号。 16.如申请专利范围第15项所述之方法,其中产生该 些时序参数之步骤进一步包含: 将该第一或第二时序参数变号。 17.如申请专利范围第13项所述之方法,其中连续二 该时序参数相互异号。 18.一种校正符号时序之装置,用来使一接收端( receiver)依据一符号时序(symbol timing)来接收一传送 端(transmitter)所传送之一讯号,该讯号对应一符号 周期(symbol period),且该装置包含有: 一取样电路,用来依据一取样周期来取样该讯号而 依序得到N个取样资料,该取样周期小于或等于该 符号周期之二分之一,其中该N为正整数; 一时序错误侦测电路,用来自该N个取样资料中撷 取M个资料,并依据该M个资料来产生复数个时序参 数(timing metric),其中该M为正整数;以及 一符号时序校正电路,用来依据该些时序参数以校 正该符号时序; 其中一该符号周期平均对应二个以上或二个该时 序参数。 19.如申请专利范围第18项所述之装置,其中该时序 错误侦测电路系每二分之一符号周期产生一该时 序参数,其中该些时序参数包含连续产生之一第一 时序参数与一第二时序参数,该第一时序参数与该 第二时序参数相互异号。 20.如申请专利范围第18项所述之装置,其进一步包 含: 一时序参数处理电路,耦接于该时序错误侦测电路 及该符号时序校正电路,用来将该第一或第二时序 参数变号。 21.如申请专利范围第18项所述之装置,其中连续二 该时序参数相互异号。 图式简单说明: 第1图为习知S曲线的示意图。 第2图为本发明数位讯号接收电路之一实施例的功 能方块图。 第3图为第2图所示之时序错误侦测器与时序参数 处理电路之一第一实施例示意图。 第4图为第2图所示之时序错误侦测器与时序参数 处理电路之一第二实施例示意图。 第5图为第2图所示之时序错误侦测器与时序参数 处理电路之一第三实施例示意图。
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