发明名称 一种平面全息光栅制作中精确控制刻线密度的方法
摘要 一种平面全息光栅制作中精确控制光栅刻线密度的方法,属于光谱技术领域中涉及的一种方法。要解决的技术问题:提供一种平面全息光栅制作中精确控制光栅刻线密度的方法。解决的技术方案:第一,配备一套全息光栅曝光装置,第二,在该装置光路中置入标准机刻光栅和半反射镜,再从准直反射镜光路中分出光路,使其产生干涉条纹,第三,在光路中取出标准机刻光栅和分出光路中的反射镜,保持半反射镜的位置不变,调节光路,使接收屏上的干涉条纹与第二步产生的干涉条纹一致,第四,取出光路中的半反射镜,在原标准机刻光栅的位置放置涂有光致抗蚀剂的光栅基底,由光致抗蚀剂记录的干涉条纹数,就是被制作的全息光栅的刻线密度。该方法控制光栅刻线密度精度高。
申请公布号 CN100371834C 申请公布日期 2008.02.27
申请号 CN200310115844.2 申请日期 2003.11.26
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 巴音贺希格;齐向东;李英海;于宏柱;李文昊
分类号 G03H1/04(2006.01);G02B5/32(2006.01);G02B5/18(2006.01);G03F7/20(2006.01);G02B27/00(2006.01) 主分类号 G03H1/04(2006.01)
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 代理人 赵炳仁
主权项 1.一种平面全息光栅制作中精确控制刻线密度的方法,是通过全息光栅曝光装置实现的,其特征在于平面全息光栅制作中精确控制刻线密度的方法为:第一,配备一套全息光栅曝光装置,包括激光光源(1)、第一反射镜(2)和第二反射镜(3)、扩束滤波器(4)、准直反射镜(5)、第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7);第二,在全息光栅曝光装置中,在准直反射镜(5)和第二调整反射镜(7)所形成的光路中与平行光线成一定角度置有第三反射镜(8),在第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7)的反射光形成的干涉场中放置标准刻线密度的机刻反射光栅(11),光栅刻线方向垂直于由激光光源(1)、第一反射镜(2)和第二反射镜(3)、扩束滤波器(4)、准直反射镜(5)、第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7)等光学元件所组成的平面,光栅表面背向第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7),光栅的法线大致平行于第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7)反射光夹角的平分线,在垂直于标准刻线密度的机刻反射光栅(11)表面的方向上安置一块半反半透镜(10),同时使半反半透镜(10)在光栅上的投影与光栅的刻线平行;在与第三反射镜(8)的反射面相对,并与标准刻线密度的机刻反射光栅(11)的刻线方向平行,位于半反半透镜(10)左端一定距离置有第四反射镜(9),使它的反射光经半反半透镜(10)后分为两束光,一束为反射光,另一束为透射光,这两束光都能到达标准刻线密度的机刻反射光栅(11),调整第四反射镜(9),使两束光分别以标准刻线密度的机刻反射光栅(11)的±1级的自准衍射角入射到机刻光栅(11)上,这两束光经光栅(11)的±1级自准衍射后,各自按它们的入射方向原路返回,再经半反半透镜(10)之后,-1级的反射光和+1级的透射光在半反半透镜(10)的另一侧重叠,在接收屏(12)上形成干涉条纹,仔细调整半反半透镜(10)的俯仰和方位角,以保证在接收屏(12)上的干涉条纹铅直并清晰可见,记录此时干涉条纹的数量;第三,取下光路中的标准刻线密度的机刻反射光栅(11)和第三反射镜(8),并确保半反半透镜(10)和接收屏(12)的位置不变,这时调节第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7)的反射光分别经半反半透镜(10)的透射和反射,叠加后在接收屏(12)上形成干涉条纹,再分别调节第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7)的俯仰角和方位角,使接收屏(12)上的干涉条纹的方向和数量分别与标准刻线密度的机刻反射光栅(11)所产生的干涉条纹相同,这时干涉场中的干涉条纹密度与标准刻线密度的机刻反射光栅(11)的刻线密度相同;第四,取出光路中的半反半透镜(10),将涂有光致抗蚀剂的光栅基底(13)放在原来光路中的标准刻线密度的机刻反射光栅(11)所在的位置,由光致抗蚀剂记录来自第一调整反射镜(6)和第二调整反射镜(7)反射光的干涉场中的干涉条纹,该干涉条纹的密度即为被制作全息光栅的刻线密度。
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