发明名称 |
一种寄存器测试的方法和系统 |
摘要 |
本发明公开了一种实现寄存器测试的系统,该系统包括:设置模块,设置寄存器属性与测试参数的对应关系;信息获取模块,获取每一个被测寄存器的寄存器信息,所述寄存器信息包含寄存器属性;测试参数产生模块,从所述信息获取模块获取的寄存器信息中得到寄存器属性,产生与所述寄存器属性对应的测试参数;执行模块,利用所述测试参数产生模块产生的所述测试参数,对所述被测寄存器进行测试,得到被测寄存器的测试结果。本发明还公开了寄存器测试的方法,使用本发明能够降低寄存器测试的工作量。 |
申请公布号 |
CN101131875A |
申请公布日期 |
2008.02.27 |
申请号 |
CN200710175434.5 |
申请日期 |
2007.09.29 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
冯备战;游明琦;艾国;占文静 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01) |
代理机构 |
北京德琦知识产权代理有限公司 |
代理人 |
宋志强;麻海明 |
主权项 |
1.一种实现寄存器测试的系统,其特征在于,该系统包括:设置模块,用于设置寄存器属性与测试参数的对应关系;信息获取模块,用于获取每一个被测寄存器的寄存器信息,所述寄存器信息包括寄存器属性;测试参数产生模块,用于从所述信息获取模块获取的寄存器信息中得到寄存器属性,产生与所述寄存器属性对应的测试参数;执行模块,用于利用所述测试参数产生模块产生的测试参数,对所述被测寄存器进行测试,得到被测寄存器的测试结果。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |