发明名称 一种寄存器测试的方法和系统
摘要 本发明公开了一种实现寄存器测试的系统,该系统包括:设置模块,设置寄存器属性与测试参数的对应关系;信息获取模块,获取每一个被测寄存器的寄存器信息,所述寄存器信息包含寄存器属性;测试参数产生模块,从所述信息获取模块获取的寄存器信息中得到寄存器属性,产生与所述寄存器属性对应的测试参数;执行模块,利用所述测试参数产生模块产生的所述测试参数,对所述被测寄存器进行测试,得到被测寄存器的测试结果。本发明还公开了寄存器测试的方法,使用本发明能够降低寄存器测试的工作量。
申请公布号 CN101131875A 申请公布日期 2008.02.27
申请号 CN200710175434.5 申请日期 2007.09.29
申请人 北京中星微电子有限公司 发明人 冯备战;游明琦;艾国;占文静
分类号 G11C29/00(2006.01) 主分类号 G11C29/00(2006.01)
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人 宋志强;麻海明
主权项 1.一种实现寄存器测试的系统,其特征在于,该系统包括:设置模块,用于设置寄存器属性与测试参数的对应关系;信息获取模块,用于获取每一个被测寄存器的寄存器信息,所述寄存器信息包括寄存器属性;测试参数产生模块,用于从所述信息获取模块获取的寄存器信息中得到寄存器属性,产生与所述寄存器属性对应的测试参数;执行模块,用于利用所述测试参数产生模块产生的测试参数,对所述被测寄存器进行测试,得到被测寄存器的测试结果。
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