发明名称 高灵敏制镀多层光学薄膜之监控方法
摘要 一种高灵敏制镀多层光学薄膜之监控方法,可经由一规则明确找出具有最高灵敏度之监控波长的方法,使监控图在切点附近之穿透率随厚度的变化最明显。然后以监控图上之穿透率(或反射率)之转折点推算出对中心波长的误差补偿厚度,以此重新推判切点。最末层以离子蚀刻方式进行厚度之修正,使成品之光谱不偏移,例如带通滤光片、带止滤光片之中心波长,截止滤光片穿透率50%之波长位置,与理论设计值一致。
申请公布号 TW200809453 申请公布日期 2008.02.16
申请号 TW095129392 申请日期 2006.08.10
申请人 国立中央大学 发明人 李正中;吴锴;郭倩丞
分类号 G05D5/00(2006.01);G02B1/10(2006.01) 主分类号 G05D5/00(2006.01)
代理机构 代理人 欧奉璋
主权项
地址 桃园县中坜市中大路300号