发明名称 基于锗硅异质纳米结构的非挥发浮栅存储器及制备方法
摘要 基于锗硅异质纳米结构的半导体非挥发性浮栅存储器,包括:半导体衬底;在半导体衬底中设有掺杂形成的源极和漏极,在源漏极间的沟道层正上方设有氧化形成隧穿氧化层;设有控制栅介电层和栅电极;在隧穿氧化层上是渐变锗硅异质纳米结构即晶粒;应用渐变锗硅异质纳米结构的复合势垒作为浮栅存储单元。本发明使用硅烷SiH<SUB>4</SUB>或乙硅烷Si<SUB>2</SUB>H<SUB>6</SUB>采用低压化学气相外延方法LPCVD淀积纳米量级的非晶硅薄膜,然后使用锗烷GeH<SUB>4</SUB>采用低压化学气相外延技术自组织生长得到锗纳米晶粒;取出样品采用选择刻蚀除去锗浸润层,通过高温退火促进锗硅间的互扩散,然后采用化学选择腐蚀剂得到锗硅异质纳米结构。
申请公布号 CN101123277A 申请公布日期 2008.02.13
申请号 CN200710131530.X 申请日期 2007.09.04
申请人 南京大学 发明人 施毅;闾锦;陈裕斌;左正;濮林;张荣;韩平;顾书林;郑有炓
分类号 H01L29/788(2006.01);H01L29/49(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/788(2006.01)
代理机构 南京天翼专利代理有限责任公司 代理人 汤志武;王鹏翔
主权项 1.基于锗硅异质纳米结构的半导体非挥发性浮栅存储器,包括:a)半导体衬底;b)在半导体衬底中设有掺杂形成的源极和漏极,在源漏极间的沟道层正上方设有氧化形成隧穿氧化层;c)设有控制栅介电层和栅电极;其特征在于在隧穿氧化层上是渐变锗硅异质纳米结构即晶粒;应用渐变锗硅异质纳米结构的复合势垒作为浮栅存储单元。
地址 210093江苏省南京市汉口路22号