发明名称 |
基于锗硅异质纳米结构的非挥发浮栅存储器及制备方法 |
摘要 |
基于锗硅异质纳米结构的半导体非挥发性浮栅存储器,包括:半导体衬底;在半导体衬底中设有掺杂形成的源极和漏极,在源漏极间的沟道层正上方设有氧化形成隧穿氧化层;设有控制栅介电层和栅电极;在隧穿氧化层上是渐变锗硅异质纳米结构即晶粒;应用渐变锗硅异质纳米结构的复合势垒作为浮栅存储单元。本发明使用硅烷SiH<SUB>4</SUB>或乙硅烷Si<SUB>2</SUB>H<SUB>6</SUB>采用低压化学气相外延方法LPCVD淀积纳米量级的非晶硅薄膜,然后使用锗烷GeH<SUB>4</SUB>采用低压化学气相外延技术自组织生长得到锗纳米晶粒;取出样品采用选择刻蚀除去锗浸润层,通过高温退火促进锗硅间的互扩散,然后采用化学选择腐蚀剂得到锗硅异质纳米结构。 |
申请公布号 |
CN101123277A |
申请公布日期 |
2008.02.13 |
申请号 |
CN200710131530.X |
申请日期 |
2007.09.04 |
申请人 |
南京大学 |
发明人 |
施毅;闾锦;陈裕斌;左正;濮林;张荣;韩平;顾书林;郑有炓 |
分类号 |
H01L29/788(2006.01);H01L29/49(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/788(2006.01) |
代理机构 |
南京天翼专利代理有限责任公司 |
代理人 |
汤志武;王鹏翔 |
主权项 |
1.基于锗硅异质纳米结构的半导体非挥发性浮栅存储器,包括:a)半导体衬底;b)在半导体衬底中设有掺杂形成的源极和漏极,在源漏极间的沟道层正上方设有氧化形成隧穿氧化层;c)设有控制栅介电层和栅电极;其特征在于在隧穿氧化层上是渐变锗硅异质纳米结构即晶粒;应用渐变锗硅异质纳米结构的复合势垒作为浮栅存储单元。 |
地址 |
210093江苏省南京市汉口路22号 |