发明名称 通用串列滙流排(USB)埠连接测试装置及利用此USB埠连接测试装置测试USB埠之方法
摘要 一种通用串列汇流排(USB)埠连接测试装置及利用此USB埠连接测试装置测试USB埠之方法,USB埠连接测试装置之第一USB埠介面与第二USB埠介面分别连接至待测设备之第一上游USB埠与第二上游USB埠,两USB埠介面透过资料传输线连接,并透过位于此资料传输线上之USB埠转接晶片,在两上游USB埠之间传输资料包,且透过此连接测试装置在两上游USB埠之间传输测试资料包,以测试两上游USB埠之工作是否正常。
申请公布号 TWI293142 申请公布日期 2008.02.01
申请号 TW094144318 申请日期 2005.12.14
申请人 英业达股份有限公司 发明人 陈镇;赵骐;陈玄同;刘文涵
分类号 G06F11/00(2006.01) 主分类号 G06F11/00(2006.01)
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路5段410号4楼
主权项 1.一种通用串列滙流排(USB)埠之连接测试装置,系 用以连接两上游USB埠,以在该两上游USB埠之间进行 资料包传输,其中,该连接测试装置包含: 一第一USB埠介面,系用以连接一第一上游USB埠; 一第二USB埠介面,系用以连接一第二上游USB埠; 一资料传输线,系用以连接该第一USB埠介面与该第 二USB埠介面;以及 一USB埠转接晶片,系位于该资料传输线上,以在该 第一上游USB埠与该第二上游USB埠之间进行资料包 传输。 2.如申请专利范围第1项所述之USB埠之连接测试装 置,其中该USB埠转接晶片为符合USB2.0标准之转接晶 片。 3.一种利用USB埠连接测试装置测试USB埠之方法,系 利用该USB埠连接测试装置对两上游USB埠进行测试, 该方法包含以下步骤: (1)安装该USB埠连接测试装置之驱动程式,并同时启 动一第一上游USB埠与一第二上游USB埠,进行测试; (2)透过该USB埠连接测试装置将该第一上游USB埠与 该第二上游USB埠进行连接,并启动该USB埠连接测试 装置之驱动程式; (3)打开该第一上游USB埠与该第二上游USB埠; (4)由该第一上游USB埠透过该USB埠连接测试装置发 送测试资料包至该第二上游USB埠,并将该第一上游 USB埠发送之测试资料包之资料记录至该第一上游 USB埠之日志档案,将该第二上游USB埠接收之测试资 料包之资料记录至该第二上游USB埠之日志档案; (5)读取该第一上游USB埠之日志档案记录之发送资 料以及该第二上游USB埠之日志档案记录之接收资 料,并且将该第一上游USB埠之日志档案记录之发送 资料和该第二上游USB埠之日志档案记录之接收资 料分别与该测试资料包之资料进行比较; (6)比对第一上游USB日志档案记录与第二上游USB日 志档案记录来决定USB埠的运作状态; (7)由该第二上游USB埠发送测试资料包至该第一上 游USB埠,并将该第二上游USB埠发送之测试资料包之 资料记录至该第二上游USB埠之日志档案,将该第一 上游USB埠接收之测试资料包之资料记录至该第一 上游USB埠之日志档案; (8)读取该第二上游USB埠之日志档案记录之发送资 料以及该第一上游USB埠之日志档案记录之接收资 料,并且将该第二上游USB埠之日志档案记录之发送 资料以及该第一上游USB埠之日志档案记录之接收 资料分别与该测试资料包之资料进行比较; (9)比对第一上游USB日志档案记录与第二上游USB日 志档案记录来决定USB埠的运作状态;以及 (10)结束测试。 4.如申请专利范围第3项所述之利用USB埠连接测试 装置测试USB埠之方法,其中步骤(6),进一步包含如 下步骤: (1)当该第一上游USB埠之日志档案记录之发送资料 与该测试资料包之资料不同时,则可判定该第一上 游USB埠发送资料包有问题;以及 (2)当该第一上游USB埠之日志档案记录之发送资料 与该测试资料包之资料相同而该第二上游USB埠之 日志档案记录之接收资料与该测试资料包之资料 不同时,则可判定该第二上游USB埠接收资料包有问 题。 5.如申请专利范围第3项所述之利用USB埠连接测试 装置测试USB埠之方法,其中步骤(9),进一步包含如 下步骤: (1)当该第二上游USB埠之日志档案记录之发送资料 与该测试资料包之资料不同时,则可判定该第二上 游USB埠发送资料包有问题; (2)当该第二上游USB埠之日志档案记录之发送资料 与该测试资料包之资料相同而该第一上游USB埠之 日志档案记录之接收资料与该测试资料包之资料 不同时,则可判定该第一上游USB埠接收资料包有问 题;以及 (3)当该测试资料包之资料与该第一上游USB埠之日 志档案记录之接收资料及该第二上游USB埠之日志 档案记录之发送资料都相同时,则可判定所测试之 该第一上游USB埠与该第二上游USB埠均工作正常。 图式简单说明: 「第1图」为本发明之USB埠连接测试装置之结构图 ;以及 「第2图」至「第4图」为本发明测试USB埠之方法 之方法流程图。
地址 台北市士林区后港街66号