发明名称 |
一种多端口存储器的测试方法 |
摘要 |
本发明有关于一种多端口存储器的测试方法,包括:(1)首先依次测试各个端口的外围互连线,如果外围互连线有故障,则进行故障诊断;如果外围互连线没有发现故障,则进行下列步骤;(2)通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试,如果存储器内部存储单元存在故障,则报告发生故障的地址;如果没有发现故障,则进行下列步骤;(3)依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试,如果地址译码器和输入/输出控制器有故障,则进行故障诊断;如果没有发现故障,则测试结束。本发明的测试方法完全覆盖了数据线、地址线、控制线、仲裁器、地址译码器和输入/输出控制器的常见故障,而且故障定位准确。 |
申请公布号 |
CN100364015C |
申请公布日期 |
2008.01.23 |
申请号 |
CN200310115354.2 |
申请日期 |
2003.11.19 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
李颖悟 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01);G06F11/22(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01) |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郭润湘 |
主权项 |
1.一种多端口存储器的测试方法,其特征在于,该方法包括下列步骤:(1)、依次测试各个端口的外围互连线,如果外围互连线有故障,则进行故障诊断;如果外围互连线没有发现故障,则进行下列步骤;(2)、通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试,如果存储器内部存储单元存在故障,则报告发生故障的地址;如果没有发现故障,则进行下列步骤;(3)、依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试,如果地址译码器和输入/输出控制器有故障,则进行故障诊断;如果没有发现故障,则测试结束。 |
地址 |
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |