| 发明名称 | 一种内存性能的生产测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种内存性能的生产测试方法，其包括以下步骤：至少包括下列任意一种性能测试方法：测试内存在带CACHE大面积写入后读取的稳定性；测试内存在带CACHE随机地址大跨度跳跃读写时的稳定性。本发明方法所采用的测试方法与业界常用的内存压力测试(RAM Stress Test)方式相比，能节省测试时间，提高测试效率，而且更适用于生产测试；而与生产测试中常用的功能测试方法相比，则能弥补其对内存性能(内存颗粒的稳定性)测试方面的不足。 | ||
| 申请公布号 | CN101110271A | 申请公布日期 | 2008.01.23 |
| 申请号 | CN200610098872.1 | 申请日期 | 2006.07.17 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 汪浩然;黄毅;陈浩 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王漪;王继长 |
| 主权项 | 1.一种内存性能的生产测试方法，其包括以下步骤：至少包括下列任意一种性能测试方法：A、测试内存在带CACHE大面积写入后读取的稳定性；B、测试内存在带CACHE随机地址大跨度跳跃读写时的稳定性。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 | ||