发明名称 Beleuchtungsoptik für eine Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage, Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem, mikrolithografisches Herstellungsverfahren für Bauelemente sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauelement
摘要 <p>Eine Beleuchtungsoptik für eine Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage (1) dient zur Ausleuchtung einer Objektoberfläche (19) mit Beleuchtungslicht (3) einer Lichtquelle (3). Zur Einstellung zweier verschiedener Beleuchtungssettings in einer Pupillenebene (12) der Beleuchtungsoptik dienen zwei voneinander separate optische Baugruppen (28, 29). Vor diesen ist ein Auskoppel-Strahlteiler (9) angeordnet. Nach diesen ist ein Einkoppel-Strahlteiler (35) angeordnet. Vor dem Auskoppel-Strahlteil (9) ist eine schaltbare Lichteigenschaft-Wechseleinrichtung (8) angeordnet, welche je nach Schaltung Beleuchtungslicht (3), das in die Lichteigenschaft-Wechseleinrichtung (8) eintritt, in Licht mit einer ersten oder einer zweiten Lichteigenschaft überführt. Je nach Lichteigenschaft wird das Beleuchtungslicht (3) durch die erste oder die zweite optische Baugruppe (28) geleitet. Es resultiert eine Beleuchtungsoptik ein eine zusätzlich die Lichtquelle aufweisendes Beleuchtungssystem, mit dem ein schneller Wechsel zwischen unterschiedlichen Beleuchtungssettings möglich ist.</p>
申请公布号 DE102006032810(A1) 申请公布日期 2008.01.17
申请号 DE20061032810 申请日期 2006.07.14
申请人 CARL ZEISS SMT AG 发明人 KOHL, ALEXANDER
分类号 G03F7/20;G02B5/30;G02B27/28;G02F1/03 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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