发明名称 电路测试探针成形装置
摘要 本发明系有关一种电路测试探针成形装置,其包含有一电解槽,该电解槽内设有一电极板,并注入适量电解液,该电极板与一直流电源负极连接,再于电解槽侧面设有一直线致动结构,直线致动结构再与一夹具相接合,可带动夹具做上下位移,该夹具可夹持固定多支待加工探针,并与一直流电源正极连接,使待加工探针成正极电性,另设有一控制电路,用以控制电解电压及驱动直线致动结构做上下位移,并可控制直线致动结构位移量及位移速度;藉由上述结构,利用电解原理,依据成形探针尖端形状所需之各阶段预设运动曲线与电解电压;经由直线致动结构控制探针浸泡于电解液面积及时间,或配合电解电压之控制,以成形各种探针尖端形状之探针,且可同时做大量探针电解加工。
申请公布号 TWI292479 申请公布日期 2008.01.11
申请号 TW095106926 申请日期 2006.03.02
申请人 台湾精微材料股份有限公司 发明人 高美雯
分类号 G01R1/067(2006.01) 主分类号 G01R1/067(2006.01)
代理机构 代理人 朱建州 台北市大安区和平东路3段121号9楼之1 E室
主权项 1.一种电路测试探针成形装置,其包含: 一电解槽,该电解槽内设有一电极板,该电极板与 一电源负极连接; 一直线致动结构,系设于该电解槽侧面; 一夹具,该夹具与上述该直线致动结构相接合,与 该直线致动结构做同步上下位移,该夹具与一电源 正极连接,可夹持固定复数支待加工探针,且该夹 具与探针成电气导通;及 一控制电路,该控制电路可控制电解电压及驱动该 直线致动结构的位移量级位移速度,并可控制该直 线致动结构位移量及位移速度,该控制电路可以根 据预设成形探针尖端形状各阶段所需电压做调整, 以便于配合直线制动结构,以固定速度将探针等速 上移离开电解液,经由控制各阶段电解电压値之大 小,藉以控制探针成形的形状。 2.如申请专利范围第1项所述之电路测试探针成形 装置,其中该直线致动结构,系于一基座上端,设有 一动力元件,该动力元件由该控制电路控制驱动, 并与一线性传动件接合,该线性传动件再与一连接 件连接。 3.如申请专利范围第2项所述之电路测试探针成形 装置,其中该动力元件为一伺服马达。 4.如申请专利范围第2项所述之电路测试探针成形 装置,其中该线性传动件为一滚珠螺杆加螺帽。 5.如申请专利范围第2项所述之电路测试探针成形 装置,其中该夹具系固设于该连接件上,与该直线 致动结构同步连动。 图式简单说明: 第1图系本发明一较佳实施例结构示意图。 第2图系本发明一较佳实施例动作示意图。 第3图~第3B图系本发明一较佳实施例之动作原理示 意图。 第4图~第4B图系本发明一较佳实施例于定电压加工 时,探针离开电解液运动曲线与成形形状关系示意 图。 第5图~第5B图系本发明一较佳实施例于探针定速运 动离开电解液时,成形形状与电压曲线示意图。
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