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发明名称
形成矽装置之方法及半导体材料
摘要
本发明系有关一种用于绝缘层上有矽之晶圆制造之方法及材料,其中在承载晶圆中之掺杂浓度系充分高,以阻止在接合至该承载晶圆期间或之后掺质自该接合晶圆扩散。
申请公布号
TW200802696
申请公布日期
2008.01.01
申请号
TW096116067
申请日期
2007.05.07
申请人
艾特梅尔公司
发明人
盖尔 米勒;莫斯 汤玛斯三世;古德 马克
分类号
H01L21/762(2006.01)
主分类号
H01L21/762(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
美国
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