发明名称 形成矽装置之方法及半导体材料
摘要 本发明系有关一种用于绝缘层上有矽之晶圆制造之方法及材料,其中在承载晶圆中之掺杂浓度系充分高,以阻止在接合至该承载晶圆期间或之后掺质自该接合晶圆扩散。
申请公布号 TW200802696 申请公布日期 2008.01.01
申请号 TW096116067 申请日期 2007.05.07
申请人 艾特梅尔公司 发明人 盖尔 米勒;莫斯 汤玛斯三世;古德 马克
分类号 H01L21/762(2006.01) 主分类号 H01L21/762(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国