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发明名称
用于碳酸羟镧之检测
摘要
提供了一种用于分析地测量一固体样品中的一杂质的量的检测。这种X-射线绕射方法较佳地使用Rietveld较佳例。
申请公布号
TW200742849
申请公布日期
2007.11.16
申请号
TW096107691
申请日期
2007.03.06
申请人
夏尔国际证照公司
发明人
海伦贝克 唐纳德;巴提斯 赛门
分类号
G01N23/20(2006.01);C01F17/00(2006.01);A61K33/24(2006.01)
主分类号
G01N23/20(2006.01)
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
荷兰
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