发明名称 一种充电电流无损检测方法
摘要 本发明涉及一种充电电流无损检测方法,当晶体管T1的栅极给驱动脉冲时,脉动直流电源通过线圈L1、T1给变压器B储能;当T1的栅极停止驱动脉冲时,变压器B中的电能经过D01给蓄电池充电。从输出驱动电路的晶体管T3和晶体管T4的发射极取出与充电电流相关的脉冲群,经电阻R26和光耦G4;由光耦G4耦合到副边,经电阻R1、电阻R2和电容C积分网络滤波得到随充电电流I变化的直流电压U<SUB>C</SUB>,该直流电压U<SUB>C</SUB>就是与充电电流I呈映射关系的电压参数,利用U<SUB>C</SUB>的电压参数间接地得到充电电流I的电流参数。本发明有益的效果是:以电压检测变换为电流检测,省略了电流检测器件,减少了发热,缩小了电路板面,属无损检测之举,且一举多得。
申请公布号 CN101067632A 申请公布日期 2007.11.07
申请号 CN200710069238.X 申请日期 2007.06.07
申请人 建德市正达电器有限公司 发明人 鲍旭东
分类号 G01R19/00(2006.01);H02J7/00(2006.01) 主分类号 G01R19/00(2006.01)
代理机构 杭州九洲专利事务所有限公司 代理人 陈继亮
主权项 1、一种充电电流无损检测方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:当晶体管T1的栅极给驱动脉冲时,脉动直流电源通过线圈L1、晶体管T1给变压器B储能;当晶体管T1的栅极停止驱动脉冲时,变压器B中的电能经过D01给蓄电池充电,充电电流和晶体管T1的导通时间和工作频率成比例关系;从输出驱动电路的晶体管T3和晶体管T4的发射极取出与充电电流相关的脉冲群,经电阻R26和光耦G4;由光耦G4耦合到副边,经电阻R1、电阻R2和电容C积分网络滤波得到随充电电流I变化的直流电压UC,该直流电压UC就是与充电电流I呈映射关系的电压参数,利用UC的电压参数间接地得到充电电流I的电流参数。
地址 311604浙江省建德市梅城镇东关路2号