发明名称 厚膜光阻膜之形成方法及光阻图型之形成方法
摘要 一种厚膜光阻膜之形成方法,其为于支撑体上形成膜厚1~15μm之厚膜光阻膜之形成方法,其为于上述支撑体上,使光阻组成物于滴落中,或滴落结束后,具有使该支撑体回转,并提高该回转数之加速步骤,与使经由上述加速步骤提高之迥转数下降的减速步骤,与维持经由上述减速步骤下降之回转数的维持低速回转之步骤。
申请公布号 TW200741355 申请公布日期 2007.11.01
申请号 TW096103030 申请日期 2007.01.26
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 新堀博
分类号 G03F7/16(2006.01) 主分类号 G03F7/16(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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