发明名称 APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING THE SURFACE TEMPERATURE OF A SUBSTRATE IN A PROCESS CHAMBER
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Steuerung der Oberflächentemperatur eines in einer Prozesskammer (12) eines CVD-Reaktors von einem Substrathalterträger (1) auf einem von einem Gasstrom gebildeten dynamischen Gaspolster (8) getragenen Substrathalter (2) aufliegenden Substrats (9), wobei die Wärmezufuhr zum Substrat (9) zumindest teilweise durch Wärmeleitung über das Gaspolster erfolgt. Um der lateralen Abweichungen der Oberflächentemperatur eines Substrates von einem Mittelwert zum vermindern, wird vorgeschlagen ,dass der das Gaspolster (8) ausbildende Gasstrom von zwei oder mehr Gasen (17, 18) mit unterschiedlich hoher spezifischer Wärmeleitfähigkeit gebildet wird und die Zusammensetzung abhängig von einer gemessenen Substrattemperatur variiert wird.</p>
申请公布号 WO2007122147(A1) 申请公布日期 2007.11.01
申请号 WO2007EP53745 申请日期 2007.04.17
申请人 AIXTRON AG;KAEPPELER, JOHANNES;FRANKEN, WALTER 发明人 KAEPPELER, JOHANNES;FRANKEN, WALTER
分类号 C23C16/46;C23C16/458;C23C16/52 主分类号 C23C16/46
代理机构 代理人
主权项
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