发明名称 |
测定绝对位置的方法及位置测量装置 |
摘要 |
在一种根据本发明的测量绝对位置的方法中,冗余地扫描一个代码(C),其中除了用于测量绝对位置所需要的代码句(CW)以外检测其它的比特。所有通过扫描得出的比特对可靠性进行检验并且在识别为不可靠的比特时对该比特分配出错标记(F)。在解码时不考虑带有出错标记(F)的比特。 |
申请公布号 |
CN100346137C |
申请公布日期 |
2007.10.31 |
申请号 |
CN03159811.0 |
申请日期 |
2003.09.25 |
申请人 |
约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
发明人 |
R·米特曼 |
分类号 |
G01D5/244(2006.01);G01D5/249(2006.01);G01D5/347(2006.01) |
主分类号 |
G01D5/244(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴立明;张志醒 |
主权项 |
1.测量绝对位置的方法,具有以下的方法步骤:-扫描由一串代码模式组成的代码模式,其中每个代码模式唯一性地定义一个绝对位置,并且每一个代码模式由多个代码元件(C1、C2、C3)组成,以及扫描附加的代码元件;-通过扫描该由一串代码模式组成的所述代码模式,构成带有多个比特的代码字(CW);-通过扫描附加的代码元件构成附加的比特;-检验代码字(CW)的比特以及附加的比特的可靠性,并且在低于规定的一个比特的标准时给该比特分配出错标记(F);-规定一串比特序列,其中相应地给这样的比特序列中的一个唯一地分配一个绝对位置;-把代码字(CW)的比特与规定的一串比特序列进行比较并且把附加比特与规定的比特序列的相应比特进行比较,在所有的比特相一致时,把该相应的绝对位置分配给代码字(CW),其中在对相符性进行比较时不考虑设有出错标记(F)的比特。 |
地址 |
联邦德国特劳恩罗伊特 |